KEYSIGHT Technologies organise 2 séminaires à XLIM les 15 et 16 Juin prochain concernant les « Logiciels de mesures des composants et l’extraction des modèles », ainsi que le « Design RF/Micro-onde et Architecture Systèmes Radar & 5G . Le programme complet de la journée est disponible au format pdf ici.

• Mercredi 15 Juin à partir de 14h (salle de conférences XLIM) : Mesures et Modélisation des composants semi-conducteurs - Inscription à la journée 1
•  Jeudi 16 Juin à partir de 9h (salle de conférences XLIM) : Conception de circuits RF et micro-ondes et Architecture des systèmes RF pour la 5G et les Radars – Inscription à la journée 2

N’hésitez pas à venir nombreux et à diffuser cette annonce à vos collègues. Notez que l’inscription est obligatoire (liens ci-dessus).

Contact : Thierry Desnues, Ingénieur commercial, thierry_desnues@keysight.com, tel. +33 1 64 53 53 47